X射线残余应力测定装置和方法

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN97101150.8 

申 请 日：19970203 

发 明 人：周上祺任勤郑林 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：630044四川省重庆市沙坪坝正街174号 

公 开 日：19971015 

公 开 号：CN1162116 

代 理 人：张荣清;郭吉安 

代理机构：重庆大学专利事务所 

摘　　要：一种X射线残余应力测定装置和方法,其装置是在现有X射线残余应力测定装置的基础上改X射线管为短波长X射线管,且管电压高,所用接收狭缝为限位接收狭缝,其方法是在现有装置的测定方法中采用短波长标识X射线,使被测点位于测角仪圆圆心,且通过限位接收狭缝,只允许被测点的衍射线进入辐射探测器。本发明能自动、无损、真实地测定X射线穿透范围内的残余应变和残余应力在工件中的三维分布,具有高效、无损、操作简便等优点。 

主 权 项：1.一种X 射线残余应力测定装置,包括X射线 管,测角仪,人射光阑,工作台,接收狭缝,辐射探测器, X射线发生器电源,计数率器,打印机,微机和稳压电 源,其特征是：(1)X射线管为短波长X射线管,其阳极 靶的材质为 Cu、Mo、Ag、W等金属,最高管电压为 200 —300KV,最大管电流为8—10mA,最低管电压10— 20KV,最低管电流l—2mA,并连续可调；(2)接收狭缝 为限位接收狭缝;(3)工作台由微机控制或手动,可作 X、Y、Z三维方向运动。 

关 键 词： 

法律状态： 

IPC专利分类号：G01N23/20