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基于电光二次效应的空间强电场测量系统
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201510546001.0
申 请 日：20150831
申 请 人：云南电网有限责任公司电力科学研究院重庆大学
申请人地址：650217 云南省昆明市经济技术开发区云大西路105号
公 开 日：20151230
公 开 号：CN105203857A
代 理 人：武君
代理机构：北京汇泽知识产权代理有限公司 11228
摘 要：本发明属于空间电场测量领域，针对传统空间电场测量技术中系统复杂，体积庞大，测量精度低等一系列不足，提供了一种基于二次电光Kerr效应的空间强电场测量系统。该系统在空间强电场测量下具体较高的精度和反应速度，可以实现多点同时测量，实现无损测量；包括激光发生器，用于发生激光；光路分束单元，用于将激光发生器输出的激光分为至少2束；Kerr传感器，接收光路分束单元分出的激光，使激光光束通过进行Kerr细胞单元后输出；光电探测器，探测Kerr传感器输出的光信号，并将其转换为电信号；以及信息采集处理单元，根据光电探测器输出的电信号，计算获得空间电场。
主 权 项：基于电光二次效应的空间强电场测量系统，其特征在于：包括激光发生器，用于发生激光；光路分束单元，用于将激光发生器输出的激光分为至少2束；Kerr传感器，接收光路分束单元分出的激光，使激光光束通过进行Kerr细胞单元后输出；光电探测器，探测Kerr传感器输出的光信号，并将其转换为电信号；以及信息采集处理单元，根据光电探测器输出的电信号，计算获得空间电场。
关 键 词：
法律状态：公开
IPC专利分类号：G01R29/14(2006.01)I