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一种基于改进的模拟电路故障诊断方法

专利类型:发明专利 

语 言:中文 

申 请 号:CN201510255739.1 

申 请 日:20150519 

发 明 人:柴毅张可熊英志张迅捷王一鸣 

申 请 人:重庆大学 

申请人地址:400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号 

公 开 日:20150819 

公 开 号:CN104849650A 

代 理 人: 

代理机构: 

摘  要:一种基于改进的模拟电路故障诊断方法,从两个方面对传统技术进行改进:1、对于DAGSVM方法的改进,将类间间距最大的SVM作为DAGSVM最上层节点,若根节点分类结果为i类,则选择与i类类间距离最大的SVM作为此层子节点,若根节点分类结果为j类,则选择与j类类间距离最大的SVM作为此层子节点;若分类结果既不属于i类也不属于j类,则排除这两类,在剩下的类中选择类间距离Dij最大的两类SVM作为此层节点继续上面两步骤,直到得到诊断结果。这样做能有效避免高层节点诊断错误,导致最终结果的错误的情况。2、为提高每个子节点的诊断准确率,对每个子SVM使用粒子群算法(PSO)进行参数优化,提高每个节点的SVM诊断准确率,以提高整个DAGSVM的诊断准确率。 

主 权 项:一种基于改进的模拟电路故障诊断方法,其特征在于包括下述步骤:步骤一:信号采集,从模拟电路的特定节点中采集信号;步骤二:故障特征提取,将采集到的信号进行小波包分解和归一化处理,得到故障特征;步骤三:将这些故障特征分别用于子节点PSOSVM进行训练,并计算类间距离;步骤四:将DAGSVM中的子节点处的SVM用PSOSVM替换,并通过类间距离从上往下依次决定各子节点。 

关 键 词: 

法律状态:公开 

IPC专利分类号:G01R31/316(2006.01)I