基于载波调制原理的多测尺微波相位测距方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201210009206.1
申 请 日：20120112
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日：20131218
公 开 号：CN102590808B
代 理 人：赵荣之
代理机构：北京同恒源知识产权代理有限公司 11275
摘 要：本发明涉及一种微波测距技术，公开了一种基于载波调制原理的多测尺微波相位测距方法。在被测点处放置微波无源反射器，在测量点处放置微波测距仪。测距信号源先产生主频测距信号经混频、功放后由发射天线发射，反射器将入射到它的微波信号按原路反射回，接收天线接收微波信号，经过低噪放、带通滤波、混频后，鉴相器测出反射和发射信号相位差ΔΦ1；该相位差与所测距离成比例，因而可得距离。该测距范围受主频信号波长限制，虽增大波长可扩大测距范围，但测距精度会降低。为了保证精度并扩大测距范围，信号源再产生辅频测距信号测距，得到相位差ΔΦ2，再据ΔΦ1和ΔΦ2求出所测距离。本发明解决了单频微波测距精度和范围的矛盾，可实现高精度下的大范围距离测量。
主 权 项：基于载波调制原理的多测尺微波相位测距方法，其特征在于：包括以下步骤：S1：先由测距信号源(3)产生主频测距信号F1，该信号通过测距系统后得到主频测距信号相位差ΔΦ1；S2：再由测距信号源(3)产生辅频测距信号F2，该信号通过测距系统后得到辅频测距信号相位差ΔΦ2；S3：通过以下公式计算所测量距离D：该式的最大可测量范围为?其中，N1为主频测距信号相位移ΔΦ1中周期2π的整数倍，N2为辅频测距信号相位移中ΔΦ2周期2π的整数倍，λ1为主频测距信号F1的波长，即?C为光速，K为辅频F2和主频F1的比例系数，即F2＝K·F1。FDA0000130511650000011.TIF,FDA0000130511650000012.TIF,FDA0000130511650000013.TIF
关 键 词：
法律状态：生效
IPC专利分类号：G01S13/08