基于漏磁场双分量的阵列型铁磁构件表面缺陷探测器

专利类型：发明专利

语言：中文

申请号：CN201110255366.X

申请日：20110831

发明人：廖昌荣韩亮汪滨波

申请人：重庆大学

申请人地址：400044重庆市沙坪坝区沙正街174号

公开日：20120502

公开号：CN102435668A

代理人：谢殿武

代理机构：北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司11129

摘　　要：本发明涉及无损检测领域，具体涉及对铁磁构件的表面裂纹、气孔、夹渣、应力集中等缺陷的无损探测设备；本发明提供了一种可对构件表面进行面扫描的基于漏磁场双分量的阵列型铁磁构件表面缺陷探测器，包括差分阵列式漏磁探头，由法向分量检测霍尔传感器组和切向分量检测霍尔传感器组组成，分别用于检测漏磁场的法向分量电压信号和切向分量电压信号；信号调理电路，用以对差分阵列式漏磁探头检测到的电压信号进行调理；数据采集与处理单元，通过对信号调理电路输出的电压信号进行分析，判断铁磁构件表面是否存在缺陷。本发明一次性检测面积大、检测速度快、检测准确、漏检率低，并能提供对构件表面的裂纹等缺陷进行定量分析所需的数据。??全部

主权项：

关键词：

法律状态：

IPC专利分类号：G01N27/83(2006.01)I