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专利类型:发明专利
语 言:中文
申 请 号:CN201710475704.8
申 请 日:20170621
申 请 人:重庆大学
申请人地址:400044重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
公 开 日:20171107
公 开 号:CN107328798A
代 理 人:赵荣之
代理机构:北京同恒源知识产权代理有限公司11275
摘 要:本发明涉及一种新型ICL系统,属于计算机分层成像领域。该系统包括射线源、平板探测器、待测样品、平台,所述射线源固定于平台上,平板探测器和待测样品沿同方向平行直线运动,同时在扫描过程中平板探测器同步转动,使系统在数据采集过程中平板探测器始终与射线源中心射束垂直。本发明还涉及一种新型ICL实现方法,该方法包括以下步骤:建立成像模型;采用迭代重建算法。本发明结构简单、低成本、可实现性高、可用于大尺寸板状构件的无损检测ICL系统。??全部
主 权 项:一种新型ICL系统,其特征在于:包括射线源、平板探测器、待测样品、平台;所述射线源、所述待测样品和所述平板探测器依次放置于所述平台上;所述射线源固定于平台上,用于发出射线;所述平板探测器和所述待测样品沿垂直于所述射线源发出射线所在直线方向,做同向直线运动;在系统扫描过程中,所述射线源发出射线穿过所述待测样品,所述平板探测器同步转动,保证系统在数据采集过程中所述平板探测器始终与所述射线源发出射线垂直。
关 键 词:
法律状态:生效
IPC专利分类号:G01N23/04(2006.01)I