射线实时成像中缺陷检测方法

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN201310063451.5 

申 请 日：20130228 

发 明 人：沈宽 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号 

公 开 日：20130612 

公 开 号：CN103149222A 

代 理 人：赵荣之 

代理机构：北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 

摘　　要：本发明公开了一种射线实时成像中缺陷检测方法，首先根据系统检测需求对要检工件的建立标准射线图像数据库；其次对被测工件的射线图像进行增强；然后从标准数据库中选择合适的图像与增强后的图像进行配准，从而获得从被测工件图像变换到标准图像的变换关系，并将增强后的图像映射到标准图像空间；接着对标准图像和变换后的增强图像进行差影操作；最后计算缺陷的大小、位置和等级。本发明避开了复杂的弱边缘提取问题，具有缺陷检测速度快、检测准确的特点，并可结合控制参数实时结算出缺陷所在工件的实际位置。该方法适合大批量产品的射线实时成像检测，可以快速检测出产品中是否包含缺陷以及缺陷的大小、位置等。 

主 权 项：射线实时成像中缺陷检测方法，其特征在于：包括以下步骤：S1：根据被检对象的类型、品种建立被检测对象的标准射线图像数据库；S2：获取被测对象的现场射线图像；S3：增强现场射线图像，获得增强后的增强射线图像；S4：从标准射线图像数据库中选择与现场射线图像同类型、同品种的标准射线图像；S5：对增强射线图像和标准射线图像进行配准，以获得从对增强后的射线图像变换到标准射线图像的空间变换系数；S6：将增强射线图像变换到标准射线图像空间，然后对二者进行差影操作，去除背景，对差影结果进行缺陷提取；S7：根据检测射线成像先验知识，对缺陷检测结果进行精化，得到缺陷目标，计算各个缺陷目标的检测参数，所述检测参数包括大小、位置和占空比。 

关 键 词： 

法律状态：生效 

IPC专利分类号：G01N23/00(2006.01)I;G06T5/00(2006.01)I