准直器阵列、工业CT设备线性探测器串扰校正装置及方法

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN201410355518.7 

申 请 日：20140724 

发 明 人：安康高富强谭辉 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号 

公 开 日：20141008 

公 开 号：CN104090291A 

代 理 人：赵荣之 

代理机构：北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 

摘　　要：本发明公开了一种包括探测器模块和准直器阵列的工业CT设备串扰校正装置，所述准直器阵列包括n个沿轴向紧密排列的准直器片，每m个准直器片组成一个准直器阵列单元，其中m大于等于3，n为m的整数倍，每个准直器阵列单元的第一块准直器片上设置有两个射线导向槽，其余准直器片上设置有一个射线导向槽；每个准直器阵列单元的第一块准直器片上侧的射线导向槽形成用于串扰系数测定的第二准直孔阵列区，其余射线导向槽形成第一准直孔阵列区。本发明提供的串扰校正装置，增加了串扰系数测定准直孔阵列区，该阵列区与探测器模块间可做相对运动，通过使用该准直孔阵列区进行数据采集，可计算出每个探测通道间信号串扰系数，提高图像质量。 

主 权 项：一种准直器阵列，其特征在于：包括n个沿轴向紧密排列的准直器片，每m个准直器片组成一个准直器阵列单元(3)，其中m大于等于3，n为m的整数倍；每个准直器阵列单元的第一块准直器片上设置有两个射线导向槽，其余准直器片上设置有一个射线导向槽；每个准直器阵列单元的第一块准直器片上侧的射线导向槽形成用于串扰系数测定的第二准直孔阵列区(8)，其余射线导向槽形成第一准直孔阵列区(7)。 

关 键 词： 

法律状态：生效 

IPC专利分类号：G01T1/16(2006.01)I