基于天线阵的多目标微位移测量方法

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN201410060204.4 

申 请 日：20140221 

发 明 人：王韬郑海升沈亦豪高瞻徐建覃大伟杨力生张潘谢芝茂谢晓姣 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号重庆大学A区通信与测控中心 

公 开 日：20170606 

公 开 号：CN103792531B 

代 理 人： 

代理机构： 

摘　　要：本发明公开了一种大型建筑物多目标微位移测量方法，属于建筑物变形监测技术领域。本方法在被测物体上安装P个无源角反射器，在远离被测物体处安装阵列雷达。天线阵辐射信号照射所有角反射器并接收混合回波信号，并行形成P个最优波束分离出每个角反射器的回波信号，每个波束在需要分离的角反射器回波信号方向上增益最大，接收信号功率最强；在其它P?1个角反射器回波方向上形成零陷，将干扰降至最小。检测发射信号与恢复的各角反射器回波信号相位差，将相位差变化量转换为各角反射器的微位移量。本方法解决了多个角反射器回波信号很难分离的问题，实现了多目标微位移测量，抗干扰能力强，能够很好地应用于建筑物的微位移测量中。 

主 权 项：一种基于天线阵的多目标微位移测量方法，使用角反射器和阵列雷达构成微位移测量系统，角反射器安装在建筑物上，阵列雷达远离被测物；阵列雷达辐射信号照射角反射器，并接收角反射器回波信号，通过最优波束形成技术，恢复出各个角反射器的回波信号，通过检测收发信号之间的相位差变化量计算各角反射器的微位移量，实现多目标微位移测量。 

关 键 词： 

法律状态：公开 

IPC专利分类号：G01S13/08