一种CT数据校正方法及一种阶梯测试件
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201710690807.6
申 请 日：20170811
申 请 人：重庆真测科技股份有限公司重庆大学中国人民解放军96630部队
申请人地址：400000 重庆市沙坪坝区西永微电子产业园区
公 开 日：20180109
公 开 号：CN107563972A
代 理 人：张景根
代理机构：重庆中之信知识产权代理事务所(普通合伙) 50213
摘 要：本发明公布了一种CT数据校正方法，通过一种阶梯测试件，获得在不同等效钢厚度下的探测器剂量自然对数值。并通过多项式拟合，拟合出真实射线积分曲线。然后求出理想射线积分曲线。最后通过两个曲线的对应关系，实现对CT数据的非线性校正。从而解决由多能射线硬化，射线散射和探测器非线性等物理或系统原因导致的CT数据呈非线性的问题。进而实现对硬化、散射、探测器非线性的数据校正。本发明还公开了一种用于CT数据校正的阶梯测试件，该测试件拥有若干等效钢厚度层，其密度等于标准钢。
主 权 项：一种CT数据校正方法，包括暗场校正和空气校正，其特征在于：还包括CT数据非线性校正，所述CT数据非线性校正用于去除射束硬化、射线散射带来的误差，所述CT数据非线性校正的方法为利用具有不同等效厚度的测试件做X射线扫描并获取其数据作参考值，结合X射线穿透阻挡物剂量值与阻挡物厚度存在I＝I0e?μx的物理关系，建立参考值与理论计算值的对应比照数学模型，并由对应比照数学模型对待测件扫描获取的数据进行比照校正；所述对应比照数学模型包涵对参考值进行自然对数运算、对自然对数运算数据进行多项式拟合、对多项式拟合曲线求导数，以及自然对数的指数逆运算。
关 键 词：散射;数据校正;阶梯测试件;探测器;射线积分曲线;拟合;多项式;公开;硬化;实现;公布;拥有;解决;对应;等于;导致;真实;获得;
法律状态：
IPC专利分类号：G06T5/00(2006.01)I,A61B6/00(2006.01)I