一种X射线偏振度的检测系统及检测方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201410544099.1
申 请 日：20141015
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日：20150107
公 开 号：CN104267423A
代 理 人：李明
代理机构：重庆博凯知识产权代理有限公司 50212
摘 要：本发明提供了一种X射线偏振度的检测系统及检测方法；该检测系统借助晶体衍射X射线产生X射线偏振光谱的原理,在衍射台上晶体薄片采用的晶体材质针对于被检测的X射线波长满足布拉格衍射条件的情况下,从光线入射通道入射的X射线辐射在衍射台两个衍射工作面的晶体薄片上时,总能够得到X射线在两个相互垂直的不同方向上的偏振光谱,结构巧妙、易于生产,解决了现有技术中X射线偏振度检测产品缺失的问题；该检测方法直接借助检测系统中两台X射线探测器探测两个方向的X射线偏振光谱强度来进行X射线偏振度的检测,操作简单,适用于任意场合中对X射线的偏振度进行检测,应用范围广泛。
主 权 项：一种X射线偏振度的检测系统,其特征在于,包括壳体、衍射台,以及分别用于检测水平方向衍射光和竖直方向衍射光的两台X射线探测器；所述壳体采用刚性硬质材料制成；壳体内具有一腔室空间,所述衍射台固定安装在该腔室空间内；壳体上还具有与腔室空间相通的一个光线入射通道和两个光线出射通道,其中,光线入射通道与第一光线出射通道的通道轴线在水平方向上且相互垂直,第二光线出射通道的通道轴线在竖直方向上,且光线入射通道、第一光线出射通道和第二光线出射通道的通道轴线的延长线能够交汇于一点；所述光线入射通道的入射口处密封地安装有能够透射X射线且屈光度为零的透镜挡片,用于检测水平方向衍射光的X射线探测器密封地安装在壳体上第一光线出射通道的出射口处,用于检测竖直方向衍射光的X射线探测器密封地安装在壳体上第二光线出射通道的出射口处,使得壳体内的腔室空间被封闭为一个密闭空间,且所述腔室空间为真空；所述衍射台具有两个衍射工作面；其中,第一衍射工作面位于光线入射通道的正投影覆盖区域与第一光线出射通道的正投影覆盖区域的交汇处,且第一衍射工作面分别与光线入射通道和第一光线出射通道的通道轴线呈45°±1°角度；第二衍射工作面位于光线入射通道的正投影覆盖区域与第二光线出射通道的正投影覆盖区域的交汇处,且第二衍射工作面分别与光线入射通道和第二光线出射通道的通道轴线呈45°±1°角度；所述第一衍射工作面和第二衍射工作面上均固定安装有从衍射工作面向内凹陷且凹陷面呈球冠状的晶体薄片。
关 键 词：
法律状态：
IPC专利分类号：G01T1/00;G01T1/36