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高能X射线工业CT电离型探测器

专利类型:发明专利 

语 言:中文 

申 请 号:CN200910103506.4 

申 请 日:20090331 

发 明 人:周日峰高富强张平谭辉安康陈伟民 

申 请 人:重庆大学 

申请人地址:400044重庆市沙坪坝区沙正街174号 

公 开 日:20090909 

公 开 号:CN101526623A 

代 理 人:赵荣之 

代理机构:北京同恒源知识产权代理有限公司 

摘  要:本发明提供一种高能X射线工业CT电离型探测器,能克服闪烁体探测器缺点,适用于高能X射线工业CT系统的辐射探测;所述高能X射线工业CT电离型探测器包括一密封壳体,密封壳体内充有工作气体,密封壳体内设置多个电离室单元,所述电离室单元为长条形,包括U形电离室壁和薄金属片,所述薄金属片的X射线接收端通过绝缘片固定设置于U形电离室壁的开口端,所述薄金属片的另一端设置于电离室内,并沿电离室的长度方向延伸;薄金属片的厚度小于等于0.3mm,由高密度高原子序数的金属或这些金属的合金制成,且外表面包裹有易产生次级电子的材料的涂层;所述U形电离室壁作为收集极与信号处理电路连接,薄金属片作为辐射转换体和高压阴极与高压电源连接。 

主 权 项:1.高能X射线工业CT电离型探测器,包括一密封壳体,所述密封壳体内充有工作气体,其特征在于:所述密封壳体内设置多个电离室单元,所述电离室单元为长条形,包括U形电离室壁和薄金属片,所述薄金属片的X射线接收端通过绝缘片固定设置于U形电离室壁的开口端,所述薄金属片的另一端设置于电离室内,并沿电离室的长度方向延伸;所述薄金属片的厚度小于等于0.3mm,所述薄金属片由高密度高原子序数的金属或这些金属的合金制成;所述U形电离室壁作为收集极与信号处理电路连接,薄金属片作为辐射转换体和高压阴极与高压电源连接。 

关 键 词: 

法律状态: 

IPC专利分类号:G01T1/185(2006.01)I