一种荧光量子效率测量装置及其测量方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201310277290.X
申 请 日：20130703
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日：20131009
公 开 号：CN103344621A
代 理 人：穆祥维
代理机构：重庆博凯知识产权代理有限公司 50212
摘 要：本发明公开了一种荧光量子效率测量装置，包括1/8积分球、单色光源系统、光谱仪和计算机；1/8积分球由内壁涂有漫反射涂层的1/8球体、三面相互垂直且均过球心的平面镜围成；平面镜II上设有入光口，平面镜I上设有探测口；单色光源系统发出的激发光与入光口对应，光谱仪的光纤探头与探测口对应，光谱仪测得的信息输入计算机。本发明还公开了一种荧光量子效率测量方法。该装置采用1/8积分球配三面平面镜的结构，保证了积分球效果的同时将球面各点所获得的信号增强为完整积分球的8倍；且不选用挡板也能抑制激发光或者荧光直接进入光谱仪对测量结果所造成的不利影响；同时样品配置方面无需专用的夹具，提高了积分空间内光分布的均匀性。
主 权 项：一种荧光量子效率测量装置，其特征在于：包括1/8积分球(1)、单色光源系统(2)、光谱仪(3)和计算机(4)；所述1/8积分球(1)由内壁涂有高反射率漫反射涂层的1/8球体(11)、水平设置的平面镜I(12)、竖直设置的平面镜II(13)和竖直设置的平面镜III(14)围成；所述平面镜I(12)、平面镜II(13)和平面镜III(14)相互垂直，其均通过1/8积分球(1)的曲率中心，所述平面镜III(14)可绕其与平面镜II(13)的相交线转动；在平面镜II(13)上设有入光口(5)，在平面镜I(12)上设有探测口(6)；所述单色光源系统(2)发出的激发光与入光口(5)对应，所述光谱仪(3)的光纤探头与探测口(6)对应，所述光谱仪(3)测得的信息输入计算机(4)。
关 键 词：
法律状态：公开
IPC专利分类号：G01N21/64(2006.01)I