一种低g值微机械加速度锁存开关
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201510771891.5
申 请 日：20151112
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
公 开 日：20160113
公 开 号：CN105244224A
代 理 人：赵荣之
代理机构：北京同恒源知识产权代理有限公司 11275
摘 要：本发明公开一种低g值微机械加速度锁存开关，包括一绝缘衬底，一检测质量块，多个相对于绝缘衬底X轴和Y轴均对称分布的锚点、触头、触头支撑梁、检测质量块支撑梁及过载保护结构。本发明所述微机械开关的动触头采用半球形与楔形复合结构，与侧触头形成线接触，降低运动过程中的能量损失，与感应触头形成面接触，减小接触电阻，提高接触的可靠性；检测质量块、扰性梁、触头以及锚点呈完全轴对称分布，可实现±Y方向的双向锁存；检测质量块支撑梁对称分布于检测质量块的两侧，结构布局更合理，易于实现低g值锁存，且通过调整检测质量块、扰性梁以及各触头之间的间隙，可方便调整闭锁阈值，阈值范围更广。
主 权 项：一种低g值微机械加速度锁存开关，其特征在于，包括一绝缘衬底，一检测质量块，多个相对于绝缘衬底X轴和Y轴均对称分布的锚点、触头、触头支撑梁以及过载保护结构，四根相对于绝缘衬底X轴和Y轴对称分布的检测质量块支撑梁；各锚点固定在绝缘衬底上；所述检测质量块悬空于绝缘衬底上方并通过检测质量块支撑梁与锚点相连，固定在绝缘衬底上，检测质量块上设置有微孔，并在正对绝缘衬底一侧设置有质量块微柱；所述触头包括四个动触头，四个侧触头和四个感应触头；所述动触头与检测质量块连为一体，侧触头和感应触头位于动触头两侧；所述动触头与侧触头接触的一面为球面形状，与感应触头接触的一面为平面形状；所述触头支撑梁包括四根感应触头支撑梁和四根侧触头支撑梁，一端与锚点相连固定于绝缘衬底上，另一端分别与相应触头相连；所述检测质量块支撑梁对称分布于检测质量块两侧，一端固定于锚点，另一端与检测质量块相连；所述过载保护结构为固定于绝缘衬底上的水平方向过载保护结构，位于侧触头支撑梁和检测质量块之间，对称分布于检测质量块两侧，并与检测质量块之间有一定距离。
关 键 词：
法律状态：公开
IPC专利分类号：H01H35/14(2006.01)I;H01H1/00(2006.01)I