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专利类型:发明专利
语 言:中文
申 请 号:CN201110112710.X
申 请 日:20110503
发 明 人:刘然田逢春刘阳鲁国宁许小艳黄扬帆甘平邰国钦谢辉刘艳飞张莎谭迎春
申 请 人:四川虹微技术有限公司重庆大学
申请人地址:610041四川省成都市高新区天府大道南延线高新孵化园8号楼
公 开 日:20110914
公 开 号:CN102186095A
代 理 人:温利平
代理机构:成都行之专利代理事务所(普通合伙)51220
摘 要:本发明公开了一种适用于深度图像绘制的匹配误差校正方法,通过检测得到一个或多个交叉区域,计算出交叉区域的交叉总数;然后对交叉区域前后各扩展一个像素点根据视差图得到在参考图像上的搜索区域,找到交叉区域中除起点以外具有最大交叉数的像素点,将该像素点新的匹配点的横坐标依次指定为搜索区域的像素点,找到具有最小差方和的预选匹配点,修正视差值后,再确定修正后该交叉区域内的总交叉数;如果变小,则将预选匹配点处的像素值拷贝到目标图像上具有最大交叉数的像素点,如果没有变小,则对其他具有最小差方和的参考图像上的像素点进行同样的处理,直到修正后的总交叉数变小。当总交叉数为0或所有像素点都不能使总交叉数变小为止。这样通过确定交叉区域和计算最小的总交叉数,可以有效地检测和校正匹配误差,目标图像质量得到了提高。??全部
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关 键 词:
法律状态:
IPC专利分类号:H04N13/00(2006.01)I