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一种新型弱磁场精密测量电路
专利类型：实用新型
语 言：中文
申 请 号：CN201520082114.5
申 请 日：20150205
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
公 开 日：20150610
公 开 号：CN204389664U
代 理 人：赵荣之
代理机构：北京同恒源知识产权代理有限公司 11275
摘 要：本实用新型公开了一种新型弱磁场精密测量电路，包括磁阻式传感器、放大电路、滤波电路、测量电路、offset电路和set/reset电路，所述磁阻式传感器的输出端与放大电路的输入端连接，放大电路的输出端与滤波电路连接，滤波电路的输出端与测量电路连接，offset电路、set/reset电路分别与磁阻式传感器连接。本实用新型的电路结构紧凑，其惠斯通电桥，“offset”带电阻，“set/reset”带电阻均设置于同一块传感器芯片内，三部分电路相互联系，共同工作。本实用新型的误差极低，通过两条带电阻的设置，消除了可能存在的环境误差，系统误差和随机误差，实现了弱磁场的精密测量的目的。本电路操作简单，去除了繁杂的软件误差处理，解决了记忆效应等问题。
主 权 项：一种新型弱磁场精密测量电路，其特征在于：包括磁阻式传感器、放大电路、滤波电路、测量电路、offset电路和set/reset电路，所述磁阻式传感器的输出端与放大电路的输入端连接，放大电路的输出端与滤波电路连接，滤波电路的输出端与数据处理电路连接，offset电路、set/reset电路分别与磁阻式传感器连接。
关 键 词：
法律状态：授权
IPC专利分类号：G01R33/09(2006.01)I;G05B23/02(2006.01)I