一种基于纹理的射线图像缺陷检测方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN201410123705.2
申 请 日：20140328
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
公 开 日：20140625
公 开 号：CN103886602A
代 理 人：赵荣之
代理机构：北京同恒源知识产权代理有限公司 11275
摘 要：本发明公开了一种基于缺陷纹理特征的射线图像中缺陷检测方法，首先根据系统检测需求和检测目标特征建立标准的缺陷纹理图像数据库；其次对被测工件的射线图像进行融合增强；然后从增强的图像中计算子块图像的纹理特征值，依次比较该特征值与缺陷纹理库的特征值，从而判定该子块图像是否为缺陷；接着遍历整个图像即可检测出该图像包含缺陷的数量与类型。本发明避开了复杂的弱边缘提取问题，检测的过程不但可以判定工件是否包含缺陷以及缺陷的位置，更重要的是直接给出了缺陷的类型、等级，大大的减少了检测人员的劳动强度。
主 权 项：一种基于纹理的射线图像缺陷检测方法，其特征在于：具体包括以下步骤：S1：根据被检对象射线成像中的缺陷特征建立缺陷的纹理图像数据库；S2：获取待测对象的现场射线图像；S3：增强现场射线图像，获得增强后的增强射线图像；S4：从增强射线图像中计算子块图像的纹理特征值，依次比较该特征值与缺陷纹理库的特征值，从而判定该子块图像是否为缺陷；S5：遍历整个增强射线图像检测出该图像各个子块图像的纹理特征值，利用这些特征值与缺陷纹理库的特征值进行比较；S6：采用判别标准确定增强射线图像的各个子块是否包含缺陷以及缺陷类型、等级；S7：将缺陷检测结果记录到数据库中供检测人员参考，并形成缺陷检测报告。
关 键 词：
法律状态：生效
IPC专利分类号：G06T7/00(2006.01)I