一种LED发光特性的非接触检测方法及装置

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN200910103968.6 

申 请 日：20090527 

发 明 人：李平文玉梅李恋文静 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400044重庆市沙坪坝区沙正街174号 

公 开 日：20091021 

公 开 号：CN101561475A 

代 理 人：侯懋琪 

代理机构：重庆市恒信知识产权代理有限公司 

摘　　要：本发明公开了一种LED发光特性的非接触检测方法：在恒温条件下，以短时脉冲光照射LED待测件的PN结区域，通过检测PN结的自发光光谱来实现对LED待测件发光特性的检测；本发明还公开了基于前述方法的LED发光特性的非接触检测装置；本发明的有益技术效果是：可以在不接触待测器件的情况下对LED外延片、晶片或者单个LED芯片的发光特性进行检测，避免对LED待测件的接触损坏，把LED产品的检测和筛选由“成品”环节推进到“芯片”乃至外延片环节，降低了LED的成本。 

主 权 项：1、一种LED发光特性的非接触检测方法，其特征在于：在恒温条件下，以短时脉冲光照射LED待测件的PN结区域，通过检测PN结的自发光光谱来实现对LED待测件发光特性的检测。 

关 键 词： 

法律状态： 

IPC专利分类号：G01R31/265(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I