利用紫外光谱法测定细胞周期的方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN200810069990.9
申 请 日：20080718
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日：20110803
公 开 号：CN101329270B
代 理 人：张先芸
代理机构：重庆博凯知识产权代理有限公司 50212
摘 要：本发明公开一种利用紫外光谱法测定细胞周期的方法。该方法利用细胞在细胞周期(G1期、S期、G2期和M期)变化过程中胞内物质(如氨基酸、核酸、蛋白质等)的不断变化对其紫外光谱的峰位、谱峰及峰强造成的影响，找出这些参数与细胞所处周期的对应关系，建立特定细胞的细胞周期紫外光谱模型，最终利用该模型实现对单个细胞周期的准确测定。该方法将一种常规方法用于对细胞周期的测量，解决以往依赖流式细胞仪对细胞周期进行测定的较为繁琐的判别方法，而且能够对细胞周期G2期和M期的细胞进行区分，这是流式细胞仪无法实现的。本发明制样简单、操作方便、仪器设备普遍、准确性高、测量速度快，应用细胞吸收峰强度随细胞周期变化的关系可很方便的对细胞的细胞周期进行判断，有利于在生物医学研究过程中推广应用。
主 权 项：1、利用紫外光谱法测定细胞周期的方法，其特征在于包括如下步骤：1)将某种细胞的单个细胞作为一个变化体系，用处于正常生长状态下的细胞周期G1期、S期、G2期和M期的单个细胞制成标准样品，利用紫外分光光度计测量所述细胞标准样品在190NM～400NM的吸光度；对于吸光度在190NM～400NM范围内只有一个吸收峰的情况，则直接利用该吸收峰强度与细胞周期的关系建立模型通过吸收峰强度对细胞周期进行判别；对于吸光度在该范围内有多个吸收峰的情况，则建立多条吸收峰强度与细胞周期的关系曲线，再利用该关系对细胞周期进行判别；2)利用紫外可见光分光光度计在190～400NM范围内，对被测样品进行扫描，对所得光谱曲线进行预处理后，将被测样品光谱曲线的吸收峰强度与所述某种细胞周期的紫外光谱模型的吸收峰强度对比，即可判断出被测细胞处于细胞周期的哪一阶段。
关 键 词：
法律状态：生效
IPC专利分类号：C12Q1/02; G01N21/33