轴芯轨迹分析仪
专利类型：实用新型
语 言：中文
申 请 号：CN201120119552.6
申 请 日：20110421
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
公 开 日：20111130
公 开 号：CN202058148U
代 理 人：郭云
代理机构：重庆市前沿专利事务所 50211
摘 要：本实用新型公开了轴芯轨迹分析仪，包括传感器组、数据采集模块、嵌入式计算机主机和显示器，其中：传感器组采集外部信号，将外部信号转换成电信号，输出到数据采集模块；数据采集模块将收到的信号转换为数字量，输出到嵌入式计算机主机；嵌入式计算机主机对接收到的数据进行分析、处理和保存，然后将结果输出到显示器显示；其特征在于：传感器组由X轴向位移传感器和Y轴向位移传感器构成，X轴向位移传感器和Y轴向位移传感器分别将X轴向位移信号和Y轴向位移信号转换成电信号，输出到数据采集模块；本实用新型对被测主轴的轴心轨迹采样，通过嵌入式计算机主机对信号分析以获得旋转机械的轴心轨迹特性，诊断旋转机械的运行状态以及故障类型。
主 权 项：?轴芯轨迹分析仪，包括传感器组（1）、数据采集模块（3）、嵌入式计算机主机（4）和显示器（5），其中：传感器组（1）采集外部信号，将外部信号转换成电信号，输出到数据采集模块（3）；数据采集模块（3）将收到的信号转换为数字量，输出到嵌入式计算机主机（4）；嵌入式计算机主机（4）对接收到的数据进行分析、处理和保存，然后将结果输出到显示器（5）显示；其特征在于：传感器组（1）由X轴向位移传感器和Y轴向位移传感器构成，X轴向位移传感器和Y轴向位移传感器分别将X轴向位移信号和Y轴向位移信号转换成电信号，输出到数据采集模块（3）。
关 键 词：
法律状态：授权
IPC专利分类号：G06F17/40; G06F9/44; G01B21/02