专利类型:发明专利
语 言:中文
申 请 号:CN200810233220.3
申 请 日:20081204
申 请 人:重庆大学
申请人地址:400044重庆市沙坪坝区沙正街174号(重庆大学光电工程学院)
公 开 日:20090617
公 开 号:CN101458209A
代 理 人:张先芸
代理机构:重庆博凯知识产权代理有限公司
摘 要:一种基于菲涅尔衍射微透镜阵列的光谱成像装置,包括微透镜基片、探测器衬底和支撑侧块构成密封的光学通道,微透镜基片和探测器衬底分别上下设置并相互平行;所述微透镜基片的下表面上加工N个菲涅尔衍射微透镜的微透镜阵列,探测器衬底上表面设有N个探测器的探测器阵列并与所述微透镜阵列相对应;微透镜阵列上N个菲涅尔衍射微透镜的焦点与探测器阵列上N个探测器的光敏面分别一一重合;每个微透镜具有相同的会聚焦距f0和台阶数L,但具有不同的会聚中心波长λ0,分别对应N种检测成份的吸收波长,此时FZP的每个环带半径rm需满足式(1),其中m=1,2,……,M;焦距f0与分辨率Δλ之间满足式(2),微透镜对λ0±Δλ范围的光具有会聚作用。它采用多通道阵列方式,同时获得多种气体或物质成份的多条吸收光谱;还具有体积小、重量轻、易于批量制造和成本低等优点。
主 权 项:1. 基于菲涅尔衍射微透镜阵列的光谱成像装置,包括微透镜基片(1)、探测器衬底(5)和支撑侧块(3);其特征在于,微透镜基片(1)、探测器衬底(5)和支撑侧块(3)构成密封的光学通道,微透镜基片(1)和探测器衬底(5)分别上下设置并相互平行;所述微透镜基片(1)的下表面上加工N个菲涅尔衍射微透镜的微透镜阵列(2),探测器衬底(5)上表面设有N个探测器的探测器阵列(4)并与所述微透镜阵列(2)相对应;微透镜阵列(2)上N个菲涅尔衍射微透镜的焦点与探测器阵列(4)上N个探测器的光敏面分别一一重;其中N为正整数;所述菲涅尔衍射微透镜的微透镜阵列(2)作为聚光和色散元件,微透镜阵列(2)上N个菲涅尔衍射微透镜采用二元微加工技术制作而成,为多台阶的位相型菲涅耳波带板FZP结构,每个FZP结构具有相同的焦距f0和台阶数L,但具有不同的会聚中心波长λ0,分别对应N种检测成分的吸收波长,此时FZP的每个环带半径rm需满足:其中m=1,2,……,M(M为最大环带数);并且微透镜的焦距f0与微透镜的光谱分辨率Δλ之间满足其中v是加工工艺的最小线宽,微透镜对λ0±Δλ范围的光具有会聚作用。
关 键 词:
法律状态:
IPC专利分类号:G01N21/31(2006.01)I;G01N21/41(2006.01)I