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专利类型:发明专利
语 言:中文
申 请 号:CN201010550878.4
申 请 日:20101119
申 请 人:二重集团(德阳)重型装备股份有限公司重庆大学中国计量技术开发总公司天津大学
申请人地址:618013四川省德阳市珠江西路460号
公 开 日:20110406
公 开 号:CN102004252A
代 理 人:王睿;刘世平
代理机构:成都虹桥专利事务所51124
摘 要:本发明公开了一种具有较高测量精度的用于对静态工件进行三维空间定位的装置以及专用手持活动式光学逆反射器。该装置为一多路激光干涉追踪系统,该多路激光干涉追踪系统由至少三台激光干涉追踪仪、与所述各台激光干涉追踪仪分别连接的数据处理系统,以及与所述至少三台激光干涉追踪仪配合使用从而对被测工件进行三维空间定位的手持活动式光学逆反射器组成;其中,所述的手持活动式光学逆反射器包括反射镜以及与所述反射镜联接并用于使该手持活动式光学逆反射器在被测工件的基准面上沿特定方向运动的定位结构。本装置由于不涉及角度测量,测量不确定度仅为5.5μm,测量精度要大大高于激光跟踪测量,可完全满足大型工件的高精度三维工件定位要求。??全部
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法律状态:
IPC专利分类号:G01S17/02(2006.01)I;G01S17/66(2006.01)I;G01C15/00(2006.01)I;G02B7/198(2006.01)I