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激光吸收光谱痕量气体分析装置

专利类型:实用新型 

语 言:中文 

申 请 号:CN200720188325.2 

申 请 日:20071121 

发 明 人:张军陈俊清朱永 

申 请 人:重庆川仪总厂有限公司重庆大学 

申请人地址:401121重庆市北部新区黄山大道61号 

公 开 日:20081210 

公 开 号:CN201163269Y 

代 理 人:孙长龙 

代理机构:北京集佳知识产权代理有限公司 

摘  要:本实用新型涉及一种激光吸收光谱气体痕量分析的装置,包括测量气室,在测量气室两端分别设有激光发射装置和激光接收装置,所述激光接收装置连接有信号处理显示装置,在所述测量气室内还设有一筒状校准气室,该校准气室端部带有校准激光发射装置和校准激光接收装置,所述校准激光发射装置连接于所述激光发射装置的光路,所述校准激光接收装置连接于信号处理显示装置,所述校准气室上还设有平衡气室内外压力的压力平衡结构。用该装置测量痕量气体其测量简单、准确,结构也大大简化,可以实现实时自校准。 

主 权 项:1.一种激光吸收光谱痕量气体分析装置,包括测量气室(10),在测量气室(10)两端分别设有激光发射装置和激光接收装置,所述激光接收装置连接有信号处理显示装置(15,16,18),其特征在于:在所述测量气室(10)内还设有一筒状校准气室(9),该校准气室(9)端部带有校准激光发射装置和校准激光接收装置,所述校准激光发射装置连接于所述激光发射装置的光路,所述校准激光接收装置连接于信号处理显示装置(15,16,18),所述校准气室(9)上还设有平衡气室内外压力的压力平衡结构。 

关 键 词: 

法律状态: 

IPC专利分类号:G01N21/39(2006.01);G06F19/00(2006.01);G02B26/08(2006.01)