基于距离欺骗技术的微位移测量方法及系统

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN201310224629.X 

申 请 日：20130606 

发 明 人：王韬张洪杨力生谭晓衡吴皓威郑海升李康男高叶霞王坤谢芝茂张潘 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号 

公 开 日：20130918 

公 开 号：CN103308911A 

代 理 人：赵荣之 

代理机构：北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 

摘　　要：本发明公开了一种基于距离欺骗技术的微位移测量方法及系统,属于建筑物变形测量技术领域。本方法在被测物体上安装多个微波相参反射器,在远离被测物体处固定安装地基干涉雷达,且微波相参反射器位于地基干涉雷达波束范围之内；地基干涉雷达向微波相参反射器辐射雷达信号,各微波相参反射器接收到信号后进行延迟相参再转发回地基干涉雷达,地基干涉雷达接收到经过延迟相参反射回来的信号以后,识别出各微波相参反射器,采用干涉测量技术计算出信号前后两次相位差,并通过计算得到各微波相参反射器的微位移量。本方法克服了密集分布的无源角反射器信号很难分离的问题,实现了多目标测量,抗干扰能力强,能够很好地应用于建筑物的微位移测量中。 

主 权 项：一种基于距离欺骗技术的微位移测量方法,其特征在于：该方法在被测物体上安装多个微波相参反射器,在远离被测物体处固定安装地基干涉雷达,且微波相参反射器位于地基干涉雷达波束范围之内；地基干涉雷达向微波相参反射器辐射雷达信号,各微波相参反射器接收到信号后进行延迟相参再转发回地基干涉雷达,地基干涉雷达接收到经过延迟相参反射回来的信号以后,识别出各微波相参反射器,采用干涉测量技术计算出信号前后两次相位差,并通过计算得到各微波相参反射器的微位移量。 

关 键 词： 

法律状态： 

IPC专利分类号：G01S13/26