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专利类型:外观设计
语 言:中文
申 请 号:CN201530481982.6
申 请 日:20151126
申 请 人:重庆真测科技股份有限公司重庆大学
申请人地址:401332 重庆市沙坪坝区西永微电子产业园区
公 开 日:20160608
公 开 号:CN303699830S
代 理 人:张景根
代理机构:重庆中之信知识产权代理事务所(普通合伙) 50213
摘 要:1.本外观设计产品的名称:计算机X线断层摄影机。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于采用微纳级源焦点,用于科学研究、试验、工业或教学等领域CT/DR检测。3.本外观设计产品的设计要点:在于产品的形状。4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片:使用状态图1。
主 权 项:
关 键 词:
法律状态:授权
IPC专利分类号:10-05(10)