基于Matlab的电子衍射指数标定方法
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN200910250973.X
申 请 日：20091223
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日：20110831
公 开 号：CN101710085B
代 理 人：张先芸
代理机构：重庆博凯知识产权代理有限公司 50212
摘 要：本发明属于材料科学分析领域，具体涉及一种基于Matlab的电子衍射指数标定方法。本发明采用透射电子显微镜、计算机和Matlab软件对样品材料进行零阶电子花样指数标定以及有特定取向关系的两种物质的电子模衍射斑的指数标定，主要涉及单晶衍射谱的标定方法和标准电子衍射图谱的绘制；采用本发明方法与现有的标定方法相比更节约时间，并且能方便地绘制出零阶和高阶模拟斑点图以及第二相与基体的取向关系图，为计算机识别单晶衍射谱提供了有利的技术基础。
主 权 项：基于MATLAB的电子衍射指数标定方法，其特征在于，采用透射电子显微镜、计算机和MATLAB软件进行；具体步骤包括：零阶电子花样指数标定：利用透射电子显微镜获得样品电子衍射花样照片，测量照片中衍射谱特征平行四边形的两个最短衍射矢量R1和R2以及它们的夹角θ，将R1、R2、θ、透射电子显微镜的相机常数K和样品的点阵常数输入计算机，由MATLAB软件计算得到各衍射斑点指数和晶带轴指数，并模拟出零阶电子花样的衍射斑点图；有特定取向关系的两种物质的电子模衍射斑的指数标定：先由透射电子显微镜获得样品基体与第二相的电子衍射花样照片，分别对照片中的基体衍射斑点和第二相衍射斑点进行零阶电子花样指数标定，确定样本中的基体和第二相各自的晶面指数、晶向指数和点阵常数，将所得数据输入MATLAB软件，利用第二相与基体的平行关系计算第二相相对于基体的转换矩阵，进而求出第二相晶带轴与基体晶带轴的夹角，模拟出按特定取向关系析出的两种物质的衍射斑点图。
关 键 词：
法律状态：生效
IPC专利分类号：G01N23/20; G06F17/50