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一种有机薄膜晶体管的制备方法

专利类型:发明专利 

语 言:中文 

申 请 号:CN201310169674.X 

申 请 日:20130510 

发 明 人:李哲峰李娇 

申 请 人:重庆大学 

申请人地址:400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号 

公 开 日:20130821 

公 开 号:CN103258960A 

代 理 人:唐开平 

代理机构:重庆大学专利中心 50201 

摘  要:本发明公开了一种有机薄膜晶体管的制备方法,它包括SiO2/Si基片的预处理,还包括基片的自组装处理:将十八磷酸溶于四氢呋喃中,配制1mmol/L的溶液,用提拉法在预处理的SiO2/Si基片上生长十八磷酸膜;真空蒸镀有机模板层:将自组装有十八磷酸膜的基片置于真空蒸镀仪中,在真空压力小于1×10-4Pa下,在基片温度25-80℃下,蒸镀5~15nm?6,13-并五苯吡嗪(DAP)分子层;然后,在基片温度25-110℃下,蒸镀80nm红荧烯层,最后真空蒸镀金电极,制得红荧烯有机薄膜晶体管器件。本发明的优点是:能获得有序的晶体状红荧烯有机薄膜,提高了红荧烯有机薄膜晶体管的载流子迁移效率。 

主 权 项:一种有机薄膜晶体管的制备方法,包括SiO2/Si基片的预处理的步骤,其特征在于包括以下步骤:第一步SiO2/Si基片的预处理:将切割好的SiO2/Si基片置于丙酮中超声清洗10分钟,用氮气枪吹干之后将基片置于H2SO4?(98%)∶H2O2(30%)?=?7∶3?溶液中,在100℃下处理1小时;?取出后用去离子水清洗,氮气枪吹干,再置于NH3(30%)∶H2O2(30%)∶H2O?=?1∶1∶5溶液中,在70℃下处理20分钟,取出后用去离子水清洗,氮气枪吹干,基片清洁工作完成;第二步?基片的自组装处理:将十八磷酸溶于四氢呋喃中,配制1mmol/L的溶液,用提拉法在预处理的SiO2/Si基片上生长十八磷酸膜,在140℃下真空干燥箱内反应48小时,然后取出,用四氢呋喃超声清洗处理后的SiO2/Si基片5分钟;第三步?真空蒸镀有机模板层:将自组装有十八磷酸膜的基片置于真空蒸镀仪中,在真空压力不大于1×10?4?Pa下,在基片温度25 

关 键 词: 

法律状态:公开 

IPC专利分类号:H01L51/40(2006.01)I