一种产生高精度、大测量范围微小位移的方法及系统

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN200510057428.0 

申 请 日：20051209 

发 明 人：陈伟民陈星雷小华朱永 

申 请 人：重庆大学陈星 

申请人地址：400044重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号 

公 开 日：20060524 

公 开 号：CN1776349A 

代 理 人：侯懋琪 

代理机构：重庆弘旭专利代理有限责任公司 

摘　　要：本发明提供了一种产生高精度、大测量范围微小位移的方法及系统，其方法为：在悬臂梁上的任意一点x施加加载力F，在悬臂梁端点B点获得所需要的微小位移。其系统由支撑、底座和悬臂构成，其中，底座和悬臂平行，支撑与底座及悬臂垂直；底座、支撑、悬臂顺序连接并呈卧“U”形。本发明的优点是：精度高，可达到亚微米级，变形范围大，变形范围从几个微米到几十个毫米，从而实现大测量范围内的高精度测量；结构简单、容易实现；成本低廉。 

主 权 项：1、一种产生高精度、大测量范围微小位移的方法，其特征在于：在悬臂梁上的任意一点x施加加载力F，在悬臂梁端点B点获得所需要的微小位移。 

关 键 词： 

法律状态： 

IPC专利分类号：G01B5/00(2006.01)