基于耦合压电阻抗的转子损伤检测方法

专利类型：发明专利 

语 言：中文 

申 请 号：CN201610541260.9 

申 请 日：20160711 

发 明 人：秦毅袁鹏邢剑锋张清亮 

申 请 人：重庆大学 

申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号 

公 开 日：20161221 

公 开 号：CN106248323A 

代 理 人：谢殿武 

代理机构：北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 

摘　　要：本发明提供的一种基于耦合压电阻抗的转子损伤检测方法，包括两各压电片组、待测转子以及无损转子，每个压电片组具有两个压电片，待测转子和无损转子分别设置一个压电片组，每个压电片串接一个电阻；能够对转子的损伤进行精确检测，包括转子损伤的程度以及损伤的位置，进而能够准确判定旋转机械的故障，有效避免由于转子损伤而引起的生产事故。 

主 权 项：一种基于耦合压电阻抗的转子损伤检测方法，其特征在于：包括两各压电片组、待测转子以及无损转子，每个压电片组具有两个压电片，待测转子和无损转子分别设置一个压电片组，每个压电片串接一个电阻；按照如下方法对转子进行检测：S1.将待测转子沿径向由圆心向外划分为多个环形的检测单元；S2.分别向待测转子任一压电片以及无损转子的任一压电片施加激励信号，使待测转子以及无损转子的压电片振动；S3.获取待测转子以及无损转子的压电导纳差△Y₁；S4.向待测转子的另一压电片施加激励信号且向无损转子的另一压电片施加激励信号，使待测转子即无损转子的压电片振动；S5.获取待测转子以及无损转子的压电导纳差△Y₂；S6.根据△Y_sum＝G_sum×D计算待测转子的损伤向量D，G_sum为灵敏度矩阵；其中G1和G2分别为待测转子的两个压电片分别被激励时的灵敏度。 

关 键 词： 

法律状态：生效 

IPC专利分类号：G01M5/00(2006.01)I