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光栅莫尔条纹测试仪

专利类型:实用新型 

语 言:中文 

申 请 号:CN200820098649.1 

申 请 日:20080624 

发 明 人:叶大梧何光宏李龙林韩忠王小勇 

申 请 人:重庆大学 

申请人地址:400044重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号 

公 开 日:20090513 

公 开 号:CN201237850Y 

代 理 人:郭吉安 

代理机构:重庆大学专利中心 

摘  要:一种检测光栅莫尔条纹特性的测量仪,属于教学仪器,该测试仪主要由轨道1、滑块2、升降台3、CCD4、副光栅5、主光栅6、分度盘7、丝杆8、百分度手轮9、均光板10、LED11构成;主光栅6和副光栅5都可灵活拆卸,副光栅5可自由旋转,其与主光栅6夹角可通过分度盘7读出。丝杆8和百分度手轮9可使滑块在轨道1上做直线运动。该测量仪能用肉眼观测到清晰的莫尔条纹,不仅可检测光栅相对位移与莫尔条纹移动数目的关系,且可检测出光栅夹角变化与莫尔条纹宽度变化的关系,该测试仪结构完全开放,操作过程透明。 

主 权 项:1、一种光栅莫尔条纹测试仪,由轨道(1)、滑块(2)、升降台(3)、CCD(4)、副光栅(5)、主光栅(6)、分度盘(7)、丝杆(8)、百分度手轮(9)、均光板(10)、LED(11)构成;其特征是:主光栅(6)放置在轨道(1)条形槽内且可拆卸,滑块(2)安放在轨道(1)正上方,与轨道(1)上表面接触,可通过丝杆(8)和百分度手轮(9)使滑块(2)在轨道(1)上做直线运动,升降台(3)固定在滑块(2)上,升降台(3)可使固定在其上的CCD(4)做上下运动,分度盘(7)贴合在滑块(1)表面,副光栅(5)放置在滑块(1)凹槽内,可自由旋转。 

关 键 词: 

法律状态:终止 

IPC专利分类号:G09B23/22(2006.01)I