高能X射线工业CT电离型探测器
专利类型：发明专利
语 言：中文
申 请 号：CN200910103506.4
申 请 日：20090331
申 请 人：重庆大学
申请人地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号
公 开 日：20120118
公 开 号：CN101526623B
代 理 人：赵荣之
代理机构：北京同恒源知识产权代理有限公司 11275
摘 要：本发明提供一种高能X射线工业CT电离型探测器，能克服闪烁体探测器缺点，适用于高能X射线工业CT系统的辐射探测；所述高能X射线工业CT电离型探测器包括一密封壳体，密封壳体内充有工作气体，密封壳体内设置多个电离室单元，所述电离室单元为长条形，包括U形电离室壁和薄金属片，所述薄金属片的X射线接收端通过绝缘片固定设置于U形电离室壁的开口端，所述薄金属片的另一端设置于电离室内，并沿电离室的长度方向延伸；薄金属片的厚度小于等于0.3mm，由高密度高原子序数的金属或这些金属的合金制成，且外表面包裹有易产生次级电子的材料的涂层；所述U形电离室壁作为收集极与信号处理电路连接，薄金属片作为辐射转换体和高压阴极与高压电源连接。
主 权 项：1.高能X射线工业CT电离型探测器，包括一密封壳体，所述密封壳体内充有工作气体，其特征在于：所述密封壳体内设置多个电离室单元，所述电离室单元为长条形，包括U形电离室壁和薄金属片，所述薄金属片的X射线接收端通过绝缘片固定设置于U形电离室壁的开口端，所述薄金属片的另一端设置于电离室内，并沿电离室的长度方向延伸；所述薄金属片的厚度小于等于0.3MM，所述薄金属片由高密度高原子序数的金属或这些金属的合金制成；所述U形电离室壁作为收集极与信号处理电路连接，薄金属片作为辐射转换体和高压阴极与高压电源连接。
关 键 词：
法律状态：生效
IPC专利分类号：G01T1/185