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已选条件:
  • 发明人=何革x
排序:
印制电路板测试路径优化方法

申请号:CN200910191018.3

申请日:20090929

申请人:重庆大学

浏览量:0
摘要:本发明公开了一种印制电路板测试路径优化方法,其特征在于:所述方法包括如下步骤:A、读取ipc文件,得到待测点所属的网络号、正反面标志、坐标信息,以及相邻网络的信息;B、对信息进行预处理,C、优化路径、E、输出测试文件:开...
印制电路板测试路径优化方法

申请号:CN200910191018.3

申请日:20090929

申请人:重庆大学

浏览量:0
摘要:本发明公开了一种印制电路板测试路径优化方法,其特征在于:所述方法包括如下步骤:A.读取ipc文件,得到待测点所属的网络号、正反面标志、坐标信息,以及相邻网络的信息;B.对信息进行预处理,C.优化路径、E、输出测试文件:开...
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